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X-ray SpectrometrySCIE

国际简称：X-RAY SPECTROM 参考译名：X 射线光谱法

中科院分区
4区
CiteScore分区
Q3
JCR分区
Q3

基本信息：: ISSN：0049-8246; E-ISSN：1097-4539; 是否OA：未开放; 是否预警：否; TOP期刊：否

出版信息：: 出版地区：ENGLAND; 出版商：John Wiley and Sons Ltd; 出版语言：Multi-Language; 出版周期：Bimonthly; 出版年份：1972; 研究方向：物理-光谱学

评价信息：: 影响因子：1.5; H-index：40; CiteScore指数：3.1; SJR指数：0.27; SNIP指数：0.671

发文数据：: Gold OA文章占比：20.86%; 研究类文章占比：97.18%; 年发文量：71; 自引率：0.0833...; 开源占比：0.117; 出版撤稿占比：; 出版国人文章占比：0; OA被引用占比：0.0538...

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英文简介期刊介绍 CiteScore数据中科院SCI分区 JCR分区发文数据常见问题

英文简介X-ray Spectrometry期刊介绍

X-Ray Spectrometry is devoted to the rapid publication of papers dealing with the theory and application of x-ray spectrometry using electron, x-ray photon, proton, γ and γ-x sources.

Covering advances in techniques, methods and equipment, this established journal provides the ideal platform for the discussion of more sophisticated X-ray analytical methods.

Both wavelength and energy dispersion systems are covered together with a range of data handling methods, from the most simple to very sophisticated software programs. Papers dealing with the application of x-ray spectrometric methods for structural analysis are also featured as well as applications papers covering a wide range of areas such as environmental analysis and monitoring, art and archaelogical studies, mineralogy, forensics, geology, surface science and materials analysis, biomedical and pharmaceutical applications.

期刊简介X-ray Spectrometry期刊介绍

《X-ray Spectrometry》自1972出版以来，是一本物理与天体物理优秀杂志。致力于发表原创科学研究结果，并为物理与天体物理各个领域的原创研究提供一个展示平台，以促进物理与天体物理领域的的进步。该刊鼓励先进的、清晰的阐述，从广泛的视角提供当前感兴趣的研究主题的新见解，或审查多年来某个重要领域的所有重要发展。该期刊特色在于及时报道物理与天体物理领域的最新进展和新发现新突破等。该刊近一年未被列入预警期刊名单，目前已被权威数据库SCIE收录，得到了广泛的认可。

该期刊投稿重要关注点：

预计审稿时间：较慢,6-12周
物理与天体物理
SPECTROSCOPY
SCIE
中科院4区
非预警

Cite Score数据（2024年最新版）X-ray Spectrometry Cite Score数据

CiteScore：3.1
SJR：0.27
SNIP：0.671

学科类别	分区	排名	百分位
大类：Chemistry 小类：Spectroscopy	Q3	52 / 76	32%

CiteScore 是由Elsevier(爱思唯尔)推出的另一种评价期刊影响力的文献计量指标。反映出一家期刊近期发表论文的年篇均引用次数。CiteScore以Scopus数据库中收集的引文为基础，针对的是前四年发表的论文的引文。CiteScore的意义在于，它可以为学术界提供一种新的、更全面、更客观地评价期刊影响力的方法，而不仅仅是通过影响因子(IF)这一单一指标来评价。

历年Cite Score趋势图

中科院SCI分区X-ray Spectrometry 中科院分区

中科院 2023年12月升级版 综述期刊：否 Top期刊：否

大类学科	分区	小类学科	分区
物理与天体物理	4区	SPECTROSCOPY 光谱学	4区

中科院分区表 是以客观数据为基础，运用科学计量学方法对国际、国内学术期刊依据影响力进行等级划分的期刊评价标准。它为我国科研、教育机构的管理人员、科研工作者提供了一份评价国际学术期刊影响力的参考数据，得到了全国各地高校、科研机构的广泛认可。

中科院分区表 将所有期刊按照一定指标划分为1区、2区、3区、4区四个层次，类似于“优、良、及格”等。最开始，这个分区只是为了方便图书管理及图书情报领域的研究和期刊评估。之后中科院分区逐步发展成为了一种评价学术期刊质量的重要工具。

历年中科院分区趋势图

JCR分区X-ray Spectrometry JCR分区

2023-2024 年最新版

按JIF指标学科分区	收录子集	分区	排名	百分位
学科：SPECTROSCOPY	SCIE	Q3	28 / 44	37.5%

按JCI指标学科分区	收录子集	分区	排名	百分位
学科：SPECTROSCOPY	SCIE	Q3	28 / 44	37.5%

JCR分区的优势在于它可以帮助读者对学术文献质量进行评估。不同学科的文章引用量可能存在较大的差异，此时单独依靠影响因子(IF)评价期刊的质量可能是存在一定问题的。因此，JCR将期刊按照学科门类和影响因子分为不同的分区，这样读者可以根据自己的研究领域和需求选择合适的期刊。

历年影响因子趋势图

本刊中国学者近年发表论文

1、A LLS operator based S-I WT de-noising algorithm applied in EDXRF
Author: Li, Fei; Tang, Chuanfeng; Li, Hui; Ge, Liangquan

Journal: X-RAY SPECTROMETRY. 2023; Vol. 52, Issue 1, pp. 13-21. DOI: 10.1002/xrs.3159
2、The technique of high-pressure powder pressing with polyester film covering for XRF of geochemical samples
Author: Li, Xiaoli; Yu, Zhaoshui; Xu, Jinli; Pan, Yanshan; Bo, Wei; Liu, Bin; Zhang, Pengpeng; Bai, Jinfeng; Zhang, Qin

Journal: X-RAY SPECTROMETRY. 2023; Vol. 52, Issue 1, pp. 2-12. DOI: 10.1002/xrs.3147
3、The accuracy evaluation method of baseline estimation algorithms in energy dispersive X-ray fluorescence spectrum analysis
Author: Jia, Luman; Gu, Yi; Zhang, Qingxian; Zhang, Jian; Yan, Xiaolan; Zhang, Yifan; Wang, Youjing; Ge, Liangquan

Journal: X-RAY SPECTROMETRY. 2023; Vol. 52, Issue 1, pp. 22-27. DOI: 10.1002/xrs.3180
4、Enamels analysis of Doucai porcelain with Chenghua mark by non-destructive micro-EDXRF
Author: Gong, Yuwu; Xiong, Yingfei; Wang, Enyuan; Chen, Jie

Journal: X-RAY SPECTROMETRY. 2023; Vol. 52, Issue 2, pp. 62-71. DOI: 10.1002/xrs.3316
5、A background correction method for energy-dispersive x-ray fluorescence spectra based on morphological operation
Author: Zhao, Wei; Ai, Xianyun; Xiao, Xiong; Xiao, Wuyun; Qi, Sheng; Li, Jinglun; Zhang, Jipeng; Lei, Wenming

Journal: X-RAY SPECTROMETRY. 2023; Vol. , Issue , pp. -. DOI: 10.1002/xrs.3353
6、X-ray spectral characteristics of typical clays in China and their application in clay classification
Author: Zhai, Juan; Lai, Wanchang; Lin, Hongjian; Li, Dan; Shi, Jie; Wang, Guangxi; Yang, Qiang; Liu, Guanhua

Journal: X-RAY SPECTROMETRY. 2023; Vol. 52, Issue 3, pp. 130-141. DOI: 10.1002/xrs.3339
7、The influence of aperture on the imaging quality of microfocus x-ray source
Author: Dong, Zengya; Shi, Lina; Niu, Geng; Wang, Wenbo; Liu, Junbiao; Han, Li

Journal: X-RAY SPECTROMETRY. 2023; Vol. , Issue , pp. -. DOI: 10.1002/xrs.3349