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MicronSCIE

国际简称：MICRON 参考译名：美光

中科院分区
3区
CiteScore分区
Q3
JCR分区
Q1

基本信息：: ISSN：0968-4328; E-ISSN：1878-4291; 是否OA：未开放; 是否预警：否; TOP期刊：否

出版信息：: 出版地区：ENGLAND; 出版商：Elsevier Ltd; 出版语言：English; 出版周期：Bimonthly; 出版年份：1993; 研究方向：工程技术-显微镜技术

评价信息：: 影响因子：2.5; H-index：75; CiteScore指数：4.3; SJR指数：0.451; SNIP指数：0.884

发文数据：: Gold OA文章占比：19.27%; 研究类文章占比：98.90%; 年发文量：91; 自引率：0.0416...; 开源占比：0.0949; 出版撤稿占比：0; 出版国人文章占比：0.23; OA被引用占比：0.055

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英文简介期刊介绍 CiteScore数据中科院SCI分区 JCR分区发文数据常见问题

英文简介Micron期刊介绍

Micron is an interdisciplinary forum for all work that involves new applications of microscopy or where advanced microscopy plays a central role. The journal will publish on the design, methods, application, practice or theory of microscopy and microanalysis, including reports on optical, electron-beam, X-ray microtomography, and scanning-probe systems. It also aims at the regular publication of review papers, short communications, as well as thematic issues on contemporary developments in microscopy and microanalysis. The journal embraces original research in which microscopy has contributed significantly to knowledge in biology, life science, nanoscience and nanotechnology, materials science and engineering.

期刊简介Micron期刊介绍

《Micron》自1993出版以来，是一本工程技术优秀杂志。致力于发表原创科学研究结果，并为工程技术各个领域的原创研究提供一个展示平台，以促进工程技术领域的的进步。该刊鼓励先进的、清晰的阐述，从广泛的视角提供当前感兴趣的研究主题的新见解，或审查多年来某个重要领域的所有重要发展。该期刊特色在于及时报道工程技术领域的最新进展和新发现新突破等。该刊近一年未被列入预警期刊名单，目前已被权威数据库SCIE收录，得到了广泛的认可。

该期刊投稿重要关注点：

预计审稿时间：约3.0个月
工程技术
MICROSCOPY
SCIE
中科院3区
非预警

Cite Score数据（2024年最新版）Micron Cite Score数据

CiteScore：4.3
SJR：0.451
SNIP：0.884

学科类别	分区	排名	百分位
大类：Biochemistry, Genetics and Molecular Biology 小类：Structural Biology	Q3	29 / 49	41%
大类：Biochemistry, Genetics and Molecular Biology 小类：Cell Biology	Q3	206 / 285	27%

CiteScore 是由Elsevier(爱思唯尔)推出的另一种评价期刊影响力的文献计量指标。反映出一家期刊近期发表论文的年篇均引用次数。CiteScore以Scopus数据库中收集的引文为基础，针对的是前四年发表的论文的引文。CiteScore的意义在于，它可以为学术界提供一种新的、更全面、更客观地评价期刊影响力的方法，而不仅仅是通过影响因子(IF)这一单一指标来评价。

历年Cite Score趋势图

中科院SCI分区Micron 中科院分区

中科院 2023年12月升级版 综述期刊：否 Top期刊：否

大类学科	分区	小类学科	分区
工程技术	3区	MICROSCOPY 显微镜技术	3区

中科院分区表 是以客观数据为基础，运用科学计量学方法对国际、国内学术期刊依据影响力进行等级划分的期刊评价标准。它为我国科研、教育机构的管理人员、科研工作者提供了一份评价国际学术期刊影响力的参考数据，得到了全国各地高校、科研机构的广泛认可。

中科院分区表 将所有期刊按照一定指标划分为1区、2区、3区、4区四个层次，类似于“优、良、及格”等。最开始，这个分区只是为了方便图书管理及图书情报领域的研究和期刊评估。之后中科院分区逐步发展成为了一种评价学术期刊质量的重要工具。

历年中科院分区趋势图

JCR分区Micron JCR分区

2023-2024 年最新版

按JIF指标学科分区	收录子集	分区	排名	百分位
学科：MICROSCOPY	SCIE	Q1	2 / 8	81.3%

按JCI指标学科分区	收录子集	分区	排名	百分位
学科：MICROSCOPY	SCIE	Q1	1 / 8	93.75%

JCR分区的优势在于它可以帮助读者对学术文献质量进行评估。不同学科的文章引用量可能存在较大的差异，此时单独依靠影响因子(IF)评价期刊的质量可能是存在一定问题的。因此，JCR将期刊按照学科门类和影响因子分为不同的分区，这样读者可以根据自己的研究领域和需求选择合适的期刊。

历年影响因子趋势图

发文数据

2023-2024 年国家/地区发文量统计

国家/地区数量
CHINA MAINLAND97
USA45
Poland34
GERMANY (FED REP GER)29
Brazil22
England21
France18
Japan18
Canada15
Italy11

本刊中国学者近年发表论文

1、Analysis of phellinus igniarius effects on gastric cancer cells by atomic force microscopy
Author: Wang, Jia-He; Wang, Jia-Jia; Ju, Tuo-Yu; Huang, Yu-Xi; Yuan, Li-Xin; Luo, Ying-Hui; Chen, Yu-Juan; Wang, Zuo-Bin

Journal: MICRON. 2023; Vol. 164, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.micron.2022.103376
2、FFT pattern recognition of crystal HRTEM image with deep learning
Author: Zhang, Quan; Bai, Ru; Peng, Bo; Wang, Zhen; Liu, Yangyi

Journal: MICRON. 2023; Vol. 166, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.micron.2022.103402
3、On the nano-treating effect of Al2O3 on the eutectic Si in Al-Si alloy
Author: Li, Mengyu; Gao, Tong; Li, Chunxiao; Sun, Yue; Wu, Yuying; Liu, Xiangfa

Journal: MICRON. 2023; Vol. 168, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.micron.2023.103443
4、Cellular activity of autophagy and multivesicular bodies in lens fiber cells during early lens development in rbm24a mutant of zebrafish: Ultrastructure analysis
Author: Tarique, Imran; Lu, Tong; Tariq, Mansoor

Journal: MICRON. 2023; Vol. 169, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.micron.2023.103446
5、Formation of nanocrystalline ?-ZrH in Zr-Nb alloy: Crystal structure and twinning
Author: Tan, Xinu; Liu, Yushun; Li, Feitao; Qiu, Risheng; Liu, Qing

Journal: MICRON. 2023; Vol. 167, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.micron.2023.103414
6、Wavelet analysis of higher harmonics in tapping mode atomic force microscopy
Author: Zhenyu Wang, Jianqiang Qian, Yingzi Li, Yingxu Zhang, Zihang Song, Zhipeng Dou, Rui Lin

Journal: MICRON, 2018, Vol.118, 58-64, DOI:10.1016/j.micron.2018.12.007
7、Effect of electron beam irradiation in TEM on the microstructure and composition of nanoprecipitates in Al-Mg-Si alloys
Author: Haonan Chen, Kai Li, Mingjun Yang, Zhuo Zhang, Yi Kong, Qiang Lu, Yong Du

Journal: MICRON, 2018, Vol.116, 116-123, DOI:10.1016/j.micron.2018.10.003
8、Surface potential and charging of polymer films submitted to defocused electron beam irradiation
Author: Jing Liu, Hai-Bo Zhang, Yue-Hu Ding, Zhong Yan, Ji-sheng Tong, Ye Yuan, Qing Zhao

Journal: MICRON, 2018, Vol.116, 100-107, DOI:10.1016/j.micron.2018.10.002