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Journal Of Micro-nanolithography Mems And MoemsSCIE

国际简称：J MICRO-NANOLITH MEM 参考译名：微纳光刻技术杂志

中科院分区
2区
CiteScore分区
Q2
JCR分区
Q3

基本信息：: ISSN：1932-5150; E-ISSN：1932-5134; 是否OA：未开放; 是否预警：否; TOP期刊：是

出版信息：: 出版地区：UNITED STATES; 出版商：SPIE; 出版语言：English; 出版周期：Quarterly; 出版年份：2007; 研究方向：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC-NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY

评价信息：: H-index：37; CiteScore指数：3.4; SJR指数：0.393; SNIP指数：1.723

发文数据：: Gold OA文章占比：7.69%; 研究类文章占比：0.00%; 年发文量：0; 自引率：0; 开源占比：0.0769; 出版撤稿占比：; 出版国人文章占比：0; OA被引用占比：

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英文简介期刊介绍 CiteScore数据中科院SCI分区 JCR分区常见问题

英文简介Journal Of Micro-nanolithography Mems And Moems期刊介绍

The Journal of Micro/Nanolithography, MEMS, and MOEMS (JM3) publishes peer-reviewed papers on the science, development, and practice of lithographic, fabrication, packaging, and integration technologies necessary to address the needs of the electronics, microelectromechanical systems, micro-optoelectromechanical systems, and photonics industries.

期刊简介Journal Of Micro-nanolithography Mems And Moems期刊介绍

《Journal Of Micro-nanolithography Mems And Moems》自2007出版以来，是一本物理与天体物理优秀杂志。致力于发表原创科学研究结果，并为物理与天体物理各个领域的原创研究提供一个展示平台，以促进物理与天体物理领域的的进步。该刊鼓励先进的、清晰的阐述，从广泛的视角提供当前感兴趣的研究主题的新见解，或审查多年来某个重要领域的所有重要发展。该期刊特色在于及时报道物理与天体物理领域的最新进展和新发现新突破等。该刊近一年未被列入预警期刊名单，目前已被权威数据库SCIE收录，得到了广泛的认可。

该期刊投稿重要关注点：

预计审稿时间：较慢,6-12周
国际TOP期刊
物理与天体物理
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
SCIE
中科院2区
非预警

Cite Score数据（2024年最新版）Journal Of Micro-nanolithography Mems And Moems Cite Score数据

CiteScore：3.4
SJR：0.393
SNIP：1.723

学科类别	分区	排名	百分位
大类：Engineering 小类：Mechanical Engineering	Q2	299 / 672	55%
大类：Engineering 小类：Electrical and Electronic Engineering	Q2	389 / 797	51%
大类：Engineering 小类：Atomic and Molecular Physics, and Optics	Q3	113 / 224	49%
大类：Engineering 小类：Condensed Matter Physics	Q3	223 / 434	48%
大类：Engineering 小类：Electronic, Optical and Magnetic Materials	Q3	155 / 284	45%

CiteScore 是由Elsevier(爱思唯尔)推出的另一种评价期刊影响力的文献计量指标。反映出一家期刊近期发表论文的年篇均引用次数。CiteScore以Scopus数据库中收集的引文为基础，针对的是前四年发表的论文的引文。CiteScore的意义在于，它可以为学术界提供一种新的、更全面、更客观地评价期刊影响力的方法，而不仅仅是通过影响因子(IF)这一单一指标来评价。

历年Cite Score趋势图

中科院SCI分区Journal Of Micro-nanolithography Mems And Moems 中科院分区

中科院 2023年12月升级版 综述期刊：否 Top期刊：否

大类学科	分区	小类学科	分区
物理与天体物理	2区	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气 MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 材料科学：综合 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 纳米科技 OPTICS 光学	3区 3区 3区 3区

中科院分区表 是以客观数据为基础，运用科学计量学方法对国际、国内学术期刊依据影响力进行等级划分的期刊评价标准。它为我国科研、教育机构的管理人员、科研工作者提供了一份评价国际学术期刊影响力的参考数据，得到了全国各地高校、科研机构的广泛认可。

中科院分区表 将所有期刊按照一定指标划分为1区、2区、3区、4区四个层次，类似于“优、良、及格”等。最开始，这个分区只是为了方便图书管理及图书情报领域的研究和期刊评估。之后中科院分区逐步发展成为了一种评价学术期刊质量的重要工具。

历年中科院分区趋势图

JCR分区Journal Of Micro-nanolithography Mems And Moems JCR分区

2023-2024 年最新版

按JIF指标学科分区	收录子集	分区	排名	百分位
学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	SCIE	Q3	187 / 275	32.2%
学科：MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY	SCIE	Q3	255 / 342	25.6%
学科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY	SCIE	Q4	91 / 107	15.4%
学科：OPTICS	SCIE	Q3	68 / 100	32.5%