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Iet Computers And Digital Techniques

Iet Computers And Digital TechniquesSCIE

国际简称:IET COMPUT DIGIT TEC  参考译名:计算机与数字技术

  • 中科院分区

    4区

  • CiteScore分区

    Q2

  • JCR分区

    Q3

基本信息:
ISSN:1751-8601
E-ISSN:1751-861X
是否OA:开放
是否预警:否
TOP期刊:否
出版信息:
出版地区:ENGLAND
出版商:Wiley
出版语言:English
出版周期:Bi-monthly
出版年份:2007
研究方向:工程技术-计算机:理论方法
评价信息:
影响因子:1.1
H-index:40
CiteScore指数:3.5
SJR指数:0.393
SNIP指数:0.752
发文数据:
Gold OA文章占比:69.64%
研究类文章占比:92.86%
年发文量:14
自引率:0
开源占比:0.3176
出版撤稿占比:0
出版国人文章占比:0.07
OA被引用占比:0
英文简介 期刊介绍 CiteScore数据 中科院SCI分区 JCR分区 发文数据 常见问题

英文简介Iet Computers And Digital Techniques期刊介绍

IET Computers & Digital Techniques publishes technical papers describing recent research and development work in all aspects of digital system-on-chip design and test of electronic and embedded systems, including the development of design automation tools (methodologies, algorithms and architectures). Papers based on the problems associated with the scaling down of CMOS technology are particularly welcome. It is aimed at researchers, engineers and educators in the fields of computer and digital systems design and test.

The key subject areas of interest are:

Design Methods and Tools: CAD/EDA tools, hardware description languages, high-level and architectural synthesis, hardware/software co-design, platform-based design, 3D stacking and circuit design, system on-chip architectures and IP cores, embedded systems, logic synthesis, low-power design and power optimisation.

Simulation, Test and Validation: electrical and timing simulation, simulation based verification, hardware/software co-simulation and validation, mixed-domain technology modelling and simulation, post-silicon validation, power analysis and estimation, interconnect modelling and signal integrity analysis, hardware trust and security, design-for-testability, embedded core testing, system-on-chip testing, on-line testing, automatic test generation and delay testing, low-power testing, reliability, fault modelling and fault tolerance.

Processor and System Architectures: many-core systems, general-purpose and application specific processors, computational arithmetic for DSP applications, arithmetic and logic units, cache memories, memory management, co-processors and accelerators, systems and networks on chip, embedded cores, platforms, multiprocessors, distributed systems, communication protocols and low-power issues.

Configurable Computing: embedded cores, FPGAs, rapid prototyping, adaptive computing, evolvable and statically and dynamically reconfigurable and reprogrammable systems, reconfigurable hardware.

Design for variability, power and aging: design methods for variability, power and aging aware design, memories, FPGAs, IP components, 3D stacking, energy harvesting.

Case Studies: emerging applications, applications in industrial designs, and design frameworks.

期刊简介Iet Computers And Digital Techniques期刊介绍

《Iet Computers And Digital Techniques》自2007出版以来,是一本计算机科学优秀杂志。致力于发表原创科学研究结果,并为计算机科学各个领域的原创研究提供一个展示平台,以促进计算机科学领域的的进步。该刊鼓励先进的、清晰的阐述,从广泛的视角提供当前感兴趣的研究主题的新见解,或审查多年来某个重要领域的所有重要发展。该期刊特色在于及时报道计算机科学领域的最新进展和新发现新突破等。该刊近一年未被列入预警期刊名单,目前已被权威数据库SCIE收录,得到了广泛的认可。

该期刊投稿重要关注点:

Cite Score数据(2024年最新版)Iet Computers And Digital Techniques Cite Score数据

  • CiteScore:3.5
  • SJR:0.393
  • SNIP:0.752
学科类别 分区 排名 百分位
大类:Engineering 小类:Electrical and Electronic Engineering Q2 380 / 797

52%

大类:Engineering 小类:Hardware and Architecture Q3 104 / 177

41%

大类:Engineering 小类:Software Q3 241 / 407

40%

CiteScore 是由Elsevier(爱思唯尔)推出的另一种评价期刊影响力的文献计量指标。反映出一家期刊近期发表论文的年篇均引用次数。CiteScore以Scopus数据库中收集的引文为基础,针对的是前四年发表的论文的引文。CiteScore的意义在于,它可以为学术界提供一种新的、更全面、更客观地评价期刊影响力的方法,而不仅仅是通过影响因子(IF)这一单一指标来评价。

历年Cite Score趋势图

中科院SCI分区Iet Computers And Digital Techniques 中科院分区

中科院 2023年12月升级版 综述期刊:否 Top期刊:否
大类学科 分区 小类学科 分区
计算机科学 4区 COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 计算机:硬件 COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS 计算机:理论方法 4区 4区

中科院分区表 是以客观数据为基础,运用科学计量学方法对国际、国内学术期刊依据影响力进行等级划分的期刊评价标准。它为我国科研、教育机构的管理人员、科研工作者提供了一份评价国际学术期刊影响力的参考数据,得到了全国各地高校、科研机构的广泛认可。

中科院分区表 将所有期刊按照一定指标划分为1区、2区、3区、4区四个层次,类似于“优、良、及格”等。最开始,这个分区只是为了方便图书管理及图书情报领域的研究和期刊评估。之后中科院分区逐步发展成为了一种评价学术期刊质量的重要工具。

历年中科院分区趋势图

JCR分区Iet Computers And Digital Techniques JCR分区

2023-2024 年最新版
按JIF指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE SCIE Q4 52 / 59

12.7%

学科:COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS SCIE Q3 87 / 143

39.5%

按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE SCIE Q4 54 / 59

9.32%

学科:COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS SCIE Q4 115 / 143

19.93%

JCR分区的优势在于它可以帮助读者对学术文献质量进行评估。不同学科的文章引用量可能存在较大的差异,此时单独依靠影响因子(IF)评价期刊的质量可能是存在一定问题的。因此,JCR将期刊按照学科门类和影响因子分为不同的分区,这样读者可以根据自己的研究领域和需求选择合适的期刊。

历年影响因子趋势图

发文数据

2023-2024 年国家/地区发文量统计
  • 国家/地区数量
  • India56
  • USA26
  • Iran15
  • CHINA MAINLAND13
  • England9
  • Canada7
  • Brazil4
  • Pakistan3
  • South Korea3
  • Taiwan3

投稿常见问题

通讯方式:WILEY, 111 RIVER ST, HOBOKEN, USA, NJ, 07030-5774。