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Ieee Transactions On Computer-aided Design Of Integrated Circuits And Systems

Ieee Transactions On Computer-aided Design Of Integrated Circuits And SystemsSCIE

国际简称：IEEE T COMPUT AID D  参考译名：集成电路和系统的计算机辅助设计IEEE Transactions

  • 中科院分区

    3区

  • CiteScore分区

    Q1

  • JCR分区

    Q2

基本信息：
ISSN：0278-0070
E-ISSN：1937-4151
是否OA：未开放
是否预警：否
TOP期刊：否
出版信息：
出版地区：UNITED STATES
出版商：Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
出版语言：English
出版周期：Monthly
出版年份：1982
研究方向：工程技术-工程：电子与电气
评价信息：
影响因子：2.7
H-index：107
CiteScore指数：5.6
SJR指数：0.957
SNIP指数：1.335
发文数据：
Gold OA文章占比：8.71%
研究类文章占比：100.00%
年发文量：413
自引率：0.1379...
开源占比：0.1171
出版撤稿占比：0
出版国人文章占比：0.22
OA被引用占比：0
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英文简介 期刊介绍 CiteScore数据 中科院SCI分区 JCR分区 发文数据 常见问题

英文简介Ieee Transactions On Computer-aided Design Of Integrated Circuits And Systems期刊介绍

The purpose of this Transactions is to publish papers of interest to individuals in the area of computer-aided design of integrated circuits and systems composed of analog, digital, mixed-signal, optical, or microwave components. The aids include methods, models, algorithms, and man-machine interfaces for system-level, physical and logical design including: planning, synthesis, partitioning, modeling, simulation, layout, verification, testing, hardware-software co-design and documentation of integrated circuit and system designs of all complexities. Design tools and techniques for evaluating and designing integrated circuits and systems for metrics such as performance, power, reliability, testability, and security are a focus.

期刊简介Ieee Transactions On Computer-aided Design Of Integrated Circuits And Systems期刊介绍

《Ieee Transactions On Computer-aided Design Of Integrated Circuits And Systems》自1982出版以来，是一本计算机科学优秀杂志。致力于发表原创科学研究结果，并为计算机科学各个领域的原创研究提供一个展示平台，以促进计算机科学领域的的进步。该刊鼓励先进的、清晰的阐述，从广泛的视角提供当前感兴趣的研究主题的新见解，或审查多年来某个重要领域的所有重要发展。该期刊特色在于及时报道计算机科学领域的最新进展和新发现新突破等。该刊近一年未被列入预警期刊名单，目前已被权威数据库SCIE收录，得到了广泛的认可。

该期刊投稿重要关注点：

Cite Score数据（2024年最新版）Ieee Transactions On Computer-aided Design Of Integrated Circuits And Systems Cite Score数据

  • CiteScore：5.6
  • SJR：0.957
  • SNIP：1.335
学科类别 分区 排名 百分位
大类：Computer Science 小类：Computer Graphics and Computer-Aided Design Q1 26 / 106

75%
大类：Computer Science 小类：Electrical and Electronic Engineering Q2 228 / 797

71%
大类：Computer Science 小类：Software Q2 155 / 407

62%

CiteScore 是由Elsevier(爱思唯尔)推出的另一种评价期刊影响力的文献计量指标。反映出一家期刊近期发表论文的年篇均引用次数。CiteScore以Scopus数据库中收集的引文为基础，针对的是前四年发表的论文的引文。CiteScore的意义在于，它可以为学术界提供一种新的、更全面、更客观地评价期刊影响力的方法，而不仅仅是通过影响因子(IF)这一单一指标来评价。

历年Cite Score趋势图

中科院SCI分区Ieee Transactions On Computer-aided Design Of Integrated Circuits And Systems 中科院分区

中科院 2023年12月升级版 综述期刊：否 Top期刊：否
大类学科 分区 小类学科 分区
计算机科学 3区 COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 计算机：硬件 COMPUTER SCIENCE, INTERDISCIPLINARY APPLICATIONS 计算机：跨学科应用 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气 3区 3区 3区

中科院分区表 是以客观数据为基础，运用科学计量学方法对国际、国内学术期刊依据影响力进行等级划分的期刊评价标准。它为我国科研、教育机构的管理人员、科研工作者提供了一份评价国际学术期刊影响力的参考数据，得到了全国各地高校、科研机构的广泛认可。

中科院分区表 将所有期刊按照一定指标划分为1区、2区、3区、4区四个层次，类似于“优、良、及格”等。最开始，这个分区只是为了方便图书管理及图书情报领域的研究和期刊评估。之后中科院分区逐步发展成为了一种评价学术期刊质量的重要工具。

历年中科院分区趋势图

JCR分区Ieee Transactions On Computer-aided Design Of Integrated Circuits And Systems JCR分区

2023-2024 年最新版
按JIF指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE SCIE Q2 27 / 59

55.1%
学科：COMPUTER SCIENCE, INTERDISCIPLINARY APPLICATIONS SCIE Q2 76 / 169

55.3%
学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q2 154 / 352

56.4%
按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE SCIE Q2 28 / 59

53.39%
学科：COMPUTER SCIENCE, INTERDISCIPLINARY APPLICATIONS SCIE Q2 82 / 169

51.78%
学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q2 152 / 354

57.2%

JCR分区的优势在于它可以帮助读者对学术文献质量进行评估。不同学科的文章引用量可能存在较大的差异，此时单独依靠影响因子(IF)评价期刊的质量可能是存在一定问题的。因此，JCR将期刊按照学科门类和影响因子分为不同的分区，这样读者可以根据自己的研究领域和需求选择合适的期刊。

历年影响因子趋势图

发文数据

2023-2024 年国家/地区发文量统计
  • 国家/地区数量
  • USA434
  • CHINA MAINLAND291
  • Taiwan74
  • GERMANY (FED REP GER)67
  • South Korea47
  • India45
  • France36
  • Canada30
  • England30
  • Austria28

本刊中国学者近年发表论文

  • 1、Energon: Toward Efficient Acceleration of Transformers Using Dynamic Sparse Attention

    Author: Zhou, Zhe; Liu, Junlin; Gu, Zhenyu; Sun, Guangyu

    Journal: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS. 2023; Vol. 42, Issue 1, pp. 136-149. DOI: 10.1109/TCAD.2022.3170848

  • 2、A Low-Latency and High-Endurance MLC STT-MRAM-Based Cache System

    Author: Zhao, Wei; Xu, Jie; Wei, Xueliang; Wu, Bing; Wang, Chengning; Zhu, Weilin; Tong, Wei; Feng, Dan; Liu, Jingning

    Journal: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS. 2023; Vol. 42, Issue 1, pp. 122-135. DOI: 10.1109/TCAD.2022.3169458

  • 3、McPAT-Calib: A RISC-V BOOM Microarchitecture Power Modeling Framework

    Author: Zhai, Jianwang; Bai, Chen; Zhu, Binwu; Cai, Yici; Zhou, Qiang; Yu, Bei

    Journal: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS. 2023; Vol. 42, Issue 1, pp. 243-256. DOI: 10.1109/TCAD.2022.3169464

  • 4、Efficient Proximity Effect Correction Using Fast Multipole Method With Unequally Spaced Grid for Electron Beam Lithography

    Author: Yao, Wenze; Zhao, Haojie; Hou, Chengyang; Liu, Wei; Xu, Hongcheng; Zhang, Xin; Xiao, Jing; Liu, Jie

    Journal: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS. 2023; Vol. 42, Issue 1, pp. 218-228. DOI: 10.1109/TCAD.2022.3171441

  • 5、PASGCN: An ReRAM-Based PIM Design for GCN With Adaptively Sparsified Graphs

    Author: Yang, Tao; Li, Dongyue; Ma, Fei; Song, Zhuoran; Zhao, Yilong; Zhang, Jiaxi; Liu, Fangxin; Jiang, Li

    Journal: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS. 2023; Vol. 42, Issue 1, pp. 150-163. DOI: 10.1109/TCAD.2022.3175031

  • 6、SDP: Co-Designing Algorithm, Dataflow, and Architecture for In-SRAM Sparse NN Acceleration

    Author: Tu, Fengbin; Wang, Yiqi; Liang, Ling; Ding, Yufei; Liu, Leibo; Wei, Shaojun; Yin, Shouyi; Xie, Yuan

    Journal: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS. 2023; Vol. 42, Issue 1, pp. 109-121. DOI: 10.1109/TCAD.2022.3172600

  • 7、SoBS-X: Squeeze-Out Bit Sparsity for ReRAM-Crossbar-Based Neural Network Accelerator

    Author: Liu, Fangxin; Wang, Zongwu; Chen, Yongbiao; He, Zhezhi; Yang, Tao; Liang, Xiaoyao; Jiang, Li

    Journal: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS. 2023; Vol. 42, Issue 1, pp. 204-217. DOI: 10.1109/TCAD.2022.3172907

  • 8、Design Automation for Continuous-Flow Lab-on-a-Chip Systems: A One-Pass Paradigm

    Author: Huang, Xing; Pan, Youlin; Chen, Zhen; Guo, Wenzhong; Wang, Lu; Li, Qingshan; Wille, Robert; Ho, Tsung-Yi; Schlichtmann, Ulf

    Journal: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS. 2023; Vol. 42, Issue 1, pp. 327-331. DOI: 10.1109/TCAD.2022.3166105

投稿常见问题

通讯方式：IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。

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